两点之前 近刻度的舍入误差就是量化噪声的物理表现形式。所有ADC都会对连接至其输入端的电压执行这种操作。它们会进行信号检测并将实际电压近似为有限数量的步长。ADC中所用到的步长数量决定分辨率的大小。高精度Δ-ΣADC的噪声成形特性通常会限度地降低热噪声和闪烁噪声。对于16位或16位以下的器件而言，热噪声远远小于因信号近似而产生的误差。在此类ADC中，大家会发现在低数据速率下数字代码几乎没有发生变化。在许多电磁应用中，导体厚度不是影响器件电性能的关键因素，并且去掉导体厚度还可以提高解决效率。今天小编就和大家聊聊HFSS二维薄片或面上的的边界设置应用技巧。首先，我们来看两个例子：贴片天线铺铜厚度的影响二维薄片和三维实物的结果对比如下图：微带滤波器铺铜厚度的影响二维薄片和三维实物的结果对比如下图：由上面两个例子对比可知，并不是所有时候三维导体模型都能用二维薄面来等效的。对于贴片天线，采用三维或二维导体无区别，因为导体侧边效应不影响器件性能。大陆封测产业的机遇摩尔定律由英特尔创始人之一戈登摩尔提出，大致意思为，每隔18-24个月在价格不变的情况下，集成电路上可容纳的元器件数目会翻一倍，性能也将提升一倍。这一定律统治了半导体产业50多年，近些年却屡屡被预估将要走向终结，而预测者中甚至包括摩尔本人。而这条金科玉律走向末路的佐证之一便是英特尔修改了基于摩尔定律的“Tick-Tock”策略，将这一架构和工艺交替升级策略的研发周期在时间上从两年延长至三年，制程工艺变为三代一升级，并且其10nm制程一直跳票。

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与此同时，近红外光谱分析技术在除农业以外的其他领域（如纺织业、化工业、制业、造纸业等）也进入了实际应用阶段，尤其是在工业现场分析、在线质量监控等方面该技术显示了其独有的优势。进入九十年代，许多基于不同分光原理的新型近红外分析仪器如二极管列阵型、声光调制型、成像光谱型等出现了，这些仪器在快速现场实时测量方面有很好的发展潜力，是当代近红外光谱分析仪器发展的典型代表。在食用油脂分析领域，研究人员利用NIR技术进行了多方面的研究，主要包含食用油脂种类鉴别与掺伪分析、理化指标的定量分析及多组分同时测定等几个方面。看到这里我相信大部分人已经可以找到自己想要看的波形了。但是想要把波形存储记录下来怎么，而且想要长时间记录可以实现吗？不要急，PA功率分析仪还波形保存记录功能。如所示，PA功率分析仪点击“store”按键会进入图示菜单，在数据类型中可以选择“波形”或“波形+数据”以记录保存波形。设置完成后，点击“始”按键进行存储，存储结束点击“停止”、“重置”即可保存。而且PA功率分析仪内置6G固态硬盘，可以满足长时间存储波形的需要。

无刷直流电机（BLDC）应用中，常采用霍尔传感器来检测电机转子的实际位置，给电子换向依据。然而，由于工艺的限制，霍尔传感器的有可能会产生物理位置偏差，从而造成电子换向的时间发生偏差，影响电机的转速和平稳度。为了能检测出这个工艺上的缺陷，在工业上采用了专用的电机检测设备，然而这些设备结构复杂、体积庞大、价格昂贵。本文基于虚拟仪器架构的设计思想，设计了一个低成本的逻辑信号检测分析仪来检测电机霍尔传感器信号。