当其引用标准出现标准变更尤其是检验方法、环境设施有实际变化的情况下，其产品检验的实际检验能力有可能出现变化。这种变化，可能会导致实验室不能按现行有效标准正常展检验工作。我们把这种变化称之为“隐性的”超范围检验。由于标准变更后需要重新进行能力确认，个别实验室怕麻烦，往往会等到监督评审或复评审时才进行确认，从而导致超能力范围检验。实验室应关注和避免这种情况的发生，在能力未确认前，不得使用新标准展检验。每个示波器探头都有其输入阻抗，这个阻抗是特性阻抗，不仅仅是电阻，还包含了电容和电感等。由于探头引入的额外负载，所以探头接入被测电路后，会从信号中汲取能量，实际上就会影响被测电路， 恶劣的后果就是电路本来是正常工作的，引入示波器探头后却不正常了，此时容易得出与事实相反的结论。因此我们在进行分析测量时必须考虑到探头的负载特性及测试电路的阻抗匹配。探头在×1档位时，信号直接进入示波器，这类探头在测试点处将其自身的电容（包括电缆的电容）与示波器的输入阻抗连在了一起，这就是探头的负载效应。从发展趋势来看，红外热像检测技术将会成为器无损检测的常规检测手段；从维修工作的实际效果来看，采用红外热像技术检测复合材料蜂窝内部积水的方法效率高、结果准确。原理及概况物理原理温度在零度以上的物体均能产生电磁波，电磁波波长范围与物体的温度相对应。如图1所示为不同温度下黑体的光谱辐射量，图中波长与辐射量是与温度相关的函数关系。热辐射与其它形式的电磁波一样，在物体表面时会发生反射、透射和吸收。图1不同温度下黑体的光谱辐射量检测原理材料或结构中的缺陷，如复合材料或其结构件中的分层、脱粘、裂纹等，其导热特性与材料本身存在明显差异。

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由P区引出的电极为阳极，由N区引出的电极为阴极，如下图所示，温度对二极管的性能有较大的影响，这是由于半导体材料的特性所致，温度升高时，二极管的正向压降将减小，每增加1oC，正向压降减小约2mV，可以从下图看出，由半导体理论可以得出，PN结所加端电压u与流过它的电流i的关系为：其中，Is为反向饱和电流，对于硅材料来说，Is约为10pA;q为电子的电量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常数，k=1.38*10-23J/K；T为温度，kT/q可以用UT来代替，则常温下，即T=300K时，UT约为26mV。当前电机测试方法随着电机行业的飞速发展，电机测试项目越来越多，测功机的功能也随之丰富起来，电机行业当前需要对电机与驱动器进行完整的测试与性能分析，电机性能分析，驱动器分析以及对控制特性瞬态波形与控制响应的分析，传统的测功机是无法到的，电机测试可以分为两大类，即工厂试验和研发试验，为电机行业测试的新需求。电机行业测试新需求利用PA功率分析仪，可对电机的输入电参数进行高精度测量;配合电机传感器，PA功率分析仪可对电机的输出机械特性参数进行测量，并求出其机械功率大小;lPA功率分析仪还可矢量图、谐波、周期分析等特色功能，分析电机的性能特性。

一到夏季，工程师们总会为电机过热而烦恼。但大家都知道衡量电机发热程度是用“温升”而不是用“温度”。电机测试中涉及到温度的测试主要时温升测试及环境温度测试，本文主要介绍两者的区别和。电机温升测试电机由常温（其各部分温度与环境温度相同）始运行，温度不断升高，当其高出环境温度后，一方面继续吸收热量缓慢升温。另一方面始向周围散发热量。当电机处于热量平衡装态，温度不再升高时，电机的温度与环境温度之差称之为电机温升。