LED研发一LED光源半导体芯片发热利用热像仪，工程师可以根据得到的光源半导体芯片发热红外热图，分析出其芯片在工作时的温度，以及温度的分布情况，在此基础，达到提高LED产品寿命的目的。二LED模块驱动电路在LED产品研发中，需要工程师进行一部分驱动电路设计，整流器电路模块。利用红外热像仪，工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处，便于完善电路设计。三光衰试验LED产品的光衰就是光在传输中的信号减弱，而现阶段全球的LED大厂们出的LED产品光衰程度都不相同，大功率LED同样存在光衰，这和温度有着直接的关系，主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。再简单一点，就是考虑更好的散热吧。功率管发热功率管的功耗分成两部分，关损耗和导通损耗。要注意，大多数场合特别是LED市电驱动应用，关损害要远大于导通损耗。关损耗与功率管的cgd和cgs以及芯片的驱动能力和工作频率有关，所以要解决功率管的发热可以从以下几个方面解决：不能片面根据导通电阻大小来选择MOS功率管，因为内阻越小，cgs和cgd电容越大。如1N60的cgs为250pF左右，2N60的cgs为350pF左右，5N60的cgs为1200pF左右，差别太大了，选择功率管时，够用就可以了。但这里有个问题，就是扭矩-转速曲线所反映的，是电机在恒转速下的扭矩输出能力，并不能反映伺服电机的过载能力。而往往伺服电机的运行，连续运行时输出的力并不大，只是启动和制动时的大，如果依据扭矩-转速曲线来电机选型，将会严重放大选型电机的功率。要测伺服电机的瞬时过载扭矩，还是需要测量电机的动态扭矩曲线。特别对于伺服驱动器设计来说，还必须同时测量电机的输入动态电流曲线，且电流曲线和扭矩曲线必须同步，才能准确捕捉到伺服电机的过载能力特性。

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简单地说，示波器的捕获模式用于控制如何从采样点中获取波形点。现在我们使用的数字示波器捕获的是波形的一系列样值，并对样值进行存储，存储限度是判断累计的样值能否绘出波形为止，随后数字示波器重构波形。而由于方式的不同，重构的信号波形也会有一定的差别。下面将介绍这四种捕获模式重构波形的异同。标准捕获模式对大多数波形来说，使用标准模式可以产生的显示效果。在一般情况下，如果您对示波器捕获波形的方式没有特殊要求时，捕获模式可以选择为ZDS40Plus示波器默认的捕获模式：标准捕获模式。?具有较强的抗干扰能力，对环境条件的要求不像激光干涉传感器那样严格，但不如感应同步器和磁栅式传感器的适应性强，油污和灰尘会影响它的可靠性。主要适用于实验室条件下工作，也可在环境较好的车间中使用。?高精度光栅的成本高。光栅式传感器在几何量测量领域中多用于测量长度（或直线位移）和角度（或角位移）。具体应用有如下几个方面：?长度和角度的精密计量仪器。如线值计量的工具显微镜、测长仪、比长仪，以及三坐标测量机等；角度计量的分度头、圆转台，以及度盘检验仪等。

客户对我们提出，德图是否可以在不同的燃烧效率的工况下，同时测量NH3以及氮氧化物，需要将氮氧化物的脱硝效率达到，使得NH3的逃逸量到。解决方案现有市面上的方法：针对固定污染源的氮氧化物以及氧气的测量，是十分容易解决的。但是在测量正常6组分气体的情况下还需要测量NH3氨逃逸的情况，则无法满足。德图解决方案：testo37不单单可以测量固定的6组分污染物：OCO、NO、NOSOCO2，还可以测量NH3，而且德图testo37高精度红 气分析仪持续加热2℃的测量室，不会出现铵盐，因为在高温下，铵盐也可以成NH3和酸性气体。