天下武功，唯快不破。在保证安全的基础上尽可能提高测试效率也是T/R组件测试领域不变的追求和目标。当然，提高测试效率的方法有很多，提高测试仪器仪表的性能（提高扫描速度和增加测试功能等）、简化连接和校准过程以及优化测试程序和工艺等。还有没有其它法呢？那就是并行测试，这也是当今自动测试技术领域发展的重要趋势和方向之一。所谓并行测试就是充分利用测试仪器和测试通道等资源，按照一定的调度规划同时执行多个测试任务，从而提高测试效率。源测量单元(SMU)是一种可以电流或电压，并测量电流和电压的仪器。SMU用来对各种器件和材料进行I-V表征，是为测量非常灵敏的弱电流，同时或扫描DC电压而设计的。在拥有长电缆或其他高电容测试连接的测试系统中，某些SMU可能不能在输出上容忍这样的电容，从而产生有噪声的读数和/或振荡。泰克日前为Keithley4200A-SCS参数分析仪推出两款源测量单元(SMU)模块。4201-SMU中等功率SMU和4211-SMU高功率SMU(选配4200-PA前置放大器)可以进行稳定的弱电流测量，包括在高测试连接电容的应用中也非常稳定，使用非常长的三芯同轴电缆来连接器件的应用。更科学的指标是信号与噪声失真比(SINAD)，以及有效位数(ENOB)。SINAD的测量需要输入一定频率、一定幅度的高信噪比正弦波给示波器，计算信号功率和噪声失真功率之比。ENOB在数学上可以通过SINAD计算得到。SINAENOB与输入信号频率、幅度的大小以及示波器的工作状态都有关。HRO不仅ADC位数比其他实时示波器高，也有极低的噪声水平。

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在测试项目中还新增了恒功率充电测试和功率自动分配试验，并给出了这2种报告对应的实验方法。艾德克斯IT89高性能大功率可编程直流电子负载电压范围为15V/6V/12V,支持CV模式主从并联，可 对接测试需求容量，功率可达6KW，可满足充电桩参数要求。直流充电桩通常采用模块化设计，市面上常见15kW，2kW充电模块，在直流充电桩厂商中既需要对充电模块进行测试，也需要对整桩进行测试。于是，为了进一步减小解决方案的尺寸，有许多多输出IC可供选择。这些IC通常包括集成的MOS场效应晶体管(MOSFET)，同时至少要求配置有外部组件。而且，单就这些IC而言，其成本或许更为昂贵。通过减少生产过程中必须到位的外部组件数量所获得的收益，往往会抵消前期付出的高昂成本。采用何种拓扑结构呢?在如所示的实际应用中，由于空间的限制，所以LDO将成为我们的。然而，由于功耗和效率的限制，实际情况并非总是如此。

otdr的测量原理光脉冲发生器产生的脉冲驱动半导体激光器而发出的测试光脉冲进入光纤沿途返回到入射端的光。就其物理原因包括两种：一种是由于光纤折射率的不匹配或不连续性而产生的菲涅尔反射；另一种是由于光纤芯折射率，微观的不均匀而引起的瑞利散射。瑞利散射光的强弱与通过该处的光功率成正比。而菲涅尔反射又与光纤的衰耗有直接关系，其强弱也就反映了光纤各点的衰耗大小。由于散射是向四面八方的，因此这些反射光总有一部分传输到输入端。