半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。从特性来说，PCA82C250/251在高速波特率下过冲很严重，在进行CE 的电磁辐射就小的多，可以通过CE认证。因为世界上CAN收发器的需求量增大，TI公司、Freescale公司、美信公司、Microhip公司纷纷推出了自己的高速CAN收发器。本文对NXP的新旧两类收发器，以及SN65HVD251(TI公司生产)和MC33901(Freescale公司生产)进行对比测试。在过去25年里，微控制器的内部外设发生了巨大的变化。 初许多微控制器只包含RAM、ROM，也许还有基本的定时器。随着微控制器的发展，更多的外设被基础到这种单价不超过一美元的器件中。定时器/计数器、PWM和包括UART、SPI和I2C在内的标准串行接口常用于这些廉价的微控制器。另一个重大变化是32位CPU正在取代同一价格范围的8位器件。但是即便有如此丰富的特性，对于廉价微控制器而言，随时都存在微控制器厂商不能迅速支持的项目专用硬件接口或新的第三方接口。

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湖南盈能电力科技有限公司建有科技大楼、研发中心、自动化公区及标准生产车间，生产线配备了 的试验设备，制定了系统发软件、通讯协议安全可靠，性能测试稳定，并与国内大学单片机中心组成为产学研联合体。盈能电力主要分为四大生产事业部运营：电气自动化事业部、高压电器事业部、智能仪表事业部、低压电器事业部。公司现拥有多名 工程师，几 技术人才，近百名生产员工。 yndl1381

信号调理模块或称隔离变送器，是采用光电、磁电等隔离技术，实现输入输出信号相互隔离转换的装置。因其抗干扰能力强，传输精度高，广泛应用于仪器仪表、油田、石化、装备等领域，是工业控制系统中重要的组成部分。什么是信号调理模块信号调理模块本质上就是隔离放大器，其主要作用就是用于信号的放大和前端电路的保护，由于它本身的隔离电压很高，极大的提升了测量设备在恶劣条件下使用不被击穿的性能。在工业自动化领域主要是对电压电流、AC交流、4-2m-5V、mV毫伏、PWM脉冲、Hz频率、Pt1热电阻、正弦波、方波、电位器、转速等各种信号进行变送、转换、隔离、放大、远传的集成电路，可与各种工业传感器配合使用，满足用户本地监视远程数据采集的需求，同时提高系统的适应度和环境可靠性，对工业生产具有不可小觑地作用。使用传感器的测试小技巧来完成测试可以把原边导线多绕几圈，通过增加一次侧的匝数，来改变输入输出的变比，比如，霍尔传感器IT1000-S变比为1:1000，原边导线多绕5圈，此时，输入输出的实际变比为1:200，并在功率计上更改变比值，这样测量的电流值为1A*1%*200=2A，相比原来的10A，上升了一个台阶，按照此道理，可以再多绕几圈，可以测量的电流值将进一步缩小。上面讲解的两种方法都是可取的，有条件的话当然选用PATV-33，所能测量的电流更小。

利用激发光源发出的特征发射光照射一定浓度的待测元素的原子蒸气，使之产生原子荧光，在一定条件下，荧光强度与被测溶液中待测元素的浓度关系遵循Lambert-Beer定律，通过测定荧光的强度即可求出待测样品中该元素的含量。原子荧光光谱法具有原子吸收和原子发射两种分析方法的优势，并且克服了这两种方法在某些地方的不足。该法的优点是灵敏度高，目前已有20多种元素的检出限优于原子吸收光谱法和原子发射光谱法；谱线简单；在低浓度时校准曲线的线性范围宽达3~5个数量级，特别是用激光激发光源时更佳，但其存在荧光淬灭效应，散射光干扰等问题。