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发布:2024/8/30 22:05:39 来源:yndl1381

振铃现象持续的时间由群延时图显示。是该滤波器的频域/时域综合图。显示了每个分离倍频程的中心频率的波长。二者有何相关?由于声速约为1英尺/毫秒(ft/ms),每个倍频程的中心频率波长大约等同于一周期所需时间。波长的概念以十分形象的方式显示声波与时间和空间有关,而滤波器的响应也是如此。群延时(GD)与滤波器的频率波长成正比关系,频率越低,群延时越长。单从名称来看,似乎指的是信号通过滤波器所造成的延时,这有点误导人。x10档结构模型此时示波器输入信号衰减为被测入信号的1/10。对于较高频率的输入信号,容抗对于信号的影响会大于阻抗。,探头在x10档时,输入阻抗为10MΩ,输入电容10pF,输入信号的频率为100MHz,此时,探头输入容抗为Xc(Cp)=1/(2×π×f×C)=159Ω,此时容抗远远小于探头阻抗,信号电流更多的会通过输入电容的低阻回路,而高阻回路等效为旁路。探头作为测试的环节,能否将信号高保真的传输至示波器是能否准确测试分析的重点,所以,在测试较高频率信号时,需注意探头的带宽和输入电容是否合适,下表为ZDS2000系列示波器标配探头参数。由Eq.1可以看出,试件表面的温度响应与试件厚度L有关。当脉冲线热源激励在薄板上时,由于盲孔缺陷处的L值减小,盲孔缺陷处表面温度的幅值会增大,且根据matlab模拟得出结论,温度的衰减也会慢于正常区域。进行Abaqus模拟后,得出结论:当线热源扫描至缺陷位置时,在缺陷处温度突然升高,高于无缺陷处的位置;当线热源扫描过缺陷后,在缺陷处的热图像上发生明显高温处的温度拖拽现象。针对在粗扫检测阶段发现的排除噪音后温度疑似缺陷的微区域,在细扫描阶段的检测原理中,在该微区域内进行提高功率的快速细扫描,将快速扫描的线激光近似看作为面激光脉冲加热。

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使用FLIRA31获取的图像甚至能使检测者检测到因火炬成分或气流量较小而肉眼看不见的烟囱火炬。FLIRA31解决了紫外线火炬探测器容易被烟雾遮蔽的相关问题。热图像和可见光图像能以模拟数据或数字化数据的形式实时发送至控制室。火炬探测装置示意图FLIRA31实现自动化控制除对烟囱火炬和烟雾进行可视化监测外,同样还实现了辅助气体对废气比率的自动化控制。如果能正确调整该比率,就能提高燃烧效率,将烟雾量化。滨松于今年正式发布了的近红外MPPC研制成果,推出了红外增强型MPPCS1372系列。其在95纳米处具有较高的探测效率,响应速度快,工作温度范围宽,适合各种场合下的激光雷达应用,尤其是使用ToF测距法的长距离测量。下图是滨松推出的红外增强型MPPC(硅光电倍增管)S1372系列。硅PIN光电二极管成本低,且不易受周围环境光的干扰,但相比APD/SPAD和MPPC,探测距离较短。硅PIN光电二极管的上升和下降时间非常短(通常为1纳秒或更短),因此非常适合于接收25纳秒数量级的光脉冲。

说到的频谱分析仪通常用在射频领域,来观察和分析被测信号的频域特性,而我们常用其配合近场探头来扫描电磁干扰的功率峰值以及找到其对应的频点,初步判定辐射源属性。眼看上去这三种仪器用途各不相同,但其实都可以用来测试晶体振荡电路的频率。如果使用示波器或者频率计,配合无源电压探头点测芯片的时钟输入引脚,就可以测量到频率,如下是各部分的电路结构:其中:CC2是晶体的负载电容,影响到频率、负性阻抗等电路参数RC3是无源电压探头的电路参数,R3是9Mohm,C3是几个pF不等R是示波器或者频率计输入通道的等效阻抗和电容,R4是1Mohm,是几十pF不等如果使用频谱分析仪,配合近场探头靠近晶体封装外壳就可以探测到辐射功率峰值的频率,这个频率也是晶体电路的振荡频率。

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