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发布:2024/7/19 22:20:24 来源:yndl1381

测试准备使用仪器2.测试原理音频信号感应法用音频信号发生器向电缆中注入一特定频率的音频电流信号,该电流信号在电缆周围就会产生音频磁场,通过传感器线圈接收这一特定频率的音频磁场,经磁声或磁电转换为人们容易识别的声音信号或其它可视信号,即可探测出电缆的路径。测试方法一:直连法所示的是通过相和金属护层之间注入信号的接线方式,其他的还有通过金属护层和大地之间、相和大地之间等几种注入信号的接线方式。一个捕获周期包括采样时间和死区时间,模拟信号通过ADC采样量化变转为数字信号同时存储,整个采样存储过程的时间称为采样时间。示波器必须对存储的数据进行测量运算显示等,才能始下一次的采样,这段时间称为死区时间。死区时间内,示波器并没有进行波形采集。一个捕获周期完成就会进入下一个捕获周期。捕获周期的倒数就是波形刷新率,如.1中所示,波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采样过程示意图影响波形刷新率的因素有哪些?采样时间和死区时间如.1中所示,波形刷新率为Tacq(采样时间)和Tdeat(死区时间)的倒数,其中采样时间由示波器屏幕的采样窗格决定,用水平时基档位乘以水平方向格数,当水平时基确定后,采样时间就会固定。使用组合透镜系统对物体成像,实现加电时液晶透镜区域清晰,具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向:液晶透镜成像系统测试目的:展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果,测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF,分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程:1.实验室液晶透镜,并通过干涉法获取波前信息,分析得到zernike系数,得到液晶透镜的性能参数,以选择合适的驱动电压;成像系统,对不同区域的物体进行成像实验;使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试,测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。

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以下就以热电偶、热电阻功能为例进行简述。热电偶配合管式检定炉可检定8种分度号的热电偶。配合8种热电偶中的任何一种测量温度,可测量温度范围为0℃~1800℃。热电阻配合水槽、油槽可检定4种分度号的热电阻。配合4种热电阻中的任何一种 。输出功能可输出直流电流、直流电压、电阻、模拟变送器、热电偶、热电阻、频率。这部分功能对于仪表检测的信号输入有着非常重要的意义。而对于这些设备来说,信号的完整性变得非常重要,特别是线路板的阻抗对信号完整性起到了至关重要的作用。SequidTDR作为专业的线路板阻抗测量工具拥有优越的性能,抖动Jrms500fs的差分阶跃信号源,物理上升时间65ps,Sequid特有的算法,能通过算法计算出上升时间不同上升时间的阻抗差别,算法上升时间可达25ps,这完全可以测试距离非常短的高速线路。由于距离越短的线路测试的误差会越大,通过的校准给线路补偿是非常必要的,Sequid的TDR有带有 的补偿功能,通过open、short及负载的校准,让连接位置及线路损耗得到了很好的补偿。

工程师在设计一款产品时用了一颗9A的MOS管,量产后发现坏品率偏高,经重新计算分析后,换成了一颗5A的MOS管,问题解决。为什么用电流裕量更小的器件,却能提高可靠性呢?工程师在设计的过程中非常注意元器件性能上的裕量,却很容易忽视热耗散设计,案例分析我们放到 说,为了帮助理解,我们先引入一个概念:其中Tc为芯片的外壳温度,PD为芯片在该环境中的耗散功率,Tj表示芯片的结点温度,目前大多数芯片的结点温度为150℃,Rjc表示芯片内部至外壳的热阻,Rcs表示外壳至散热片的热阻,Rsa表示散热片到空气的热阻,一般功率器件用Rjc进行计算即可。

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